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精致型光學掃瞄系統
    發布時間: 2020-04-01 00:00    

測量范圍:
x軸 100mm~200
 

Z1軸:60mm 

立柱:300~500mm

測量精度: 

x軸: (0.8+0.01L)μm 

Z1軸: ±(1.6+|2H|)μm 


   精致型光學掃瞄系統
    ATOS Compact Scan

    精致型光學掃描系統在三維掃描與檢測領域,定義了一個全新的設備等級。重量輕化,結構緊湊,開啟新的應用領域,并能維持極致的操作能力,如鑄造和射出件、外觀與模型、內部空間、原型、模型設計,...等。
先進的硬體與強大的軟體完整的結合,以供執行掃描與檢測的工作。密集的硬體和軟體的培訓計畫和可靠的全球支援網絡,形成一個完整的方案,這些都全基於有競爭力的售價。

    ATOS Compact Scan - The compact class of scanning
    ATOS精緻型光學掃描系統提供您:

    藍光技術
    掃描與接觸式探針
    多樣的掃瞄范圍
    精緻型等級
    便攜式測量系統
    完整的測量系統